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Fraunhofer - White Spot Analyse
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12.05.2014, 16:28
Juergen Maier
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Fraunhofer - White Spot Analyse
IT-gestützte White-Spot-Analyse: Patentinformationen nutzen um F&E Potentiale aufzudecken
Prof. Dr. Joachim Warschat und Dipl.-Kffr. techn. Yvonne Wich
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