![]() |
Fraunhofer - White Spot Analyse
Liste der Anhänge anzeigen (Anzahl: 1)
IT-gestützte White-Spot-Analyse: Patentinformationen nutzen um F&E Potentiale aufzudecken
Prof. Dr. Joachim Warschat und Dipl.-Kffr. techn. Yvonne Wich |
Alle Zeitangaben in WEZ +2. Es ist jetzt 13:07 Uhr. |
Copyright 2008 Fürstenberg Forum